水冷式高低溫實驗箱 高低溫試驗箱

科學研究表明，現(xiàn)實環(huán)境中的溫度和濕度有著密不可分的關系，因此，在一定溫度的條件下，空氣中也是會保持相對穩(wěn)定的濕度的。環(huán)境溫濕度的高低變變會影響工業(yè)產品、工業(yè)材料的性能、故障或者老化。而高低溫老化試驗箱就是一款人工模擬溫濕度測試、試驗、實驗什么樣的產品在什么樣的環(huán)境下比較適應或者試驗其耐熱、耐濕、耐寒、耐干性能及研發(fā)，質量管理工程之試驗專用。

水冷式高低溫實驗箱常用于測試和試驗確定電工、電子、電器及其它工業(yè)產品、材料進行恒溫、恒濕、高低溫交變濕熱或恒定濕熱試驗各種樣品在人為的溫度環(huán)境下使用、擺設、貯存的參數及性能。適合LED、光電、電器、通訊、電子、儀表、化學、車輛、塑膠制品、金屬、建材、、食品、航天等制品檢測質量或研發(fā)之用。

水冷式高低溫實驗箱的技術參數：

工作室尺寸：400×500×400（D×W×H）。

外尺寸：650×1050×1550。

溫度范圍： A:0～150℃；B:-20～150℃；；C:-40～150℃。

濕度范圍：20%~98%。

溫度波動度：±0.5℃；溫度均勻度：±2.0℃。

升溫速度：1.0～3.0℃/min；降溫速率：0.7～1.2℃/min。

電  源:單相AC220V；功率約5kw

執(zhí)行標準：

性能指標符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求。

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。

GJB150.9-1986《設備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》。

GJB4.5-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》。

電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)。

電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)。

電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-2008（IEC68-2-3）。

電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)。