電池高溫防爆老化試驗箱

電池高溫防爆老化試驗箱適用于儀器儀表、電工、電子及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗；是各類電工、電子、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于LED、光電、光纖、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、循環(huán)試驗。

電池高溫防爆老化試驗箱防爆配置：

1，內(nèi)箱和外箱的鋼板的加厚。
2，安裝防爆合頁，冷拉手，安裝防爆鏈條。
3，雙層防爆視窗，且安裝防爆網(wǎng)，視窗燈為
防爆燈。
4，安裝泄壓口（電池爆炸達到一定壓力，自
動彈開）
5.一些電器配件，風(fēng)機，等也選用防爆類的

執(zhí)行與滿足標準
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法；
GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》；
GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》；。
MIL-STD810D方法502.2 美國標準；
IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗
EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

常規(guī)型號及規(guī)格參數(shù)：

型號:LQ-GD-80   內(nèi)箱尺寸：400×500×400    外箱尺寸：950×1360×950

型號:LQ-GD-150  內(nèi)箱尺寸：500×600×500    外箱尺寸：1050×1460×1050

型號:LQ-GD-225  內(nèi)箱尺寸：500×750×600    外箱尺寸：1050×1610×1150

型號:LQ-GD-408  內(nèi)箱尺寸：600×850×800    外箱尺寸：1150×1710×1250

型號:LQ-GD-800  內(nèi)箱尺寸：1000×1000×800  外箱尺寸：1550×1850×1300

型號:LQ-GD-1000 內(nèi)箱尺寸：1000×1000×1000 外箱尺寸：1550×1850×1470

容積分別是：80升     150升     225升      408升      800升     1000升

溫度范圍：A:0℃~150℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D：-60℃~150℃；F：-70℃~150℃（任選、任調(diào)）

溫度穩(wěn)定度：±0.5℃

溫度分布均度：±2℃

升溫時間：3℃/min（空載非線性）

降溫時間：1℃/min（空載非線性）